投稿须知
  一、征文范围及内容
  本刊主要刊登材料科学与工程、机械工程与动力工程、化工与轻工、自动 ...

双道次搅拌摩擦焊后Cu-Al接头的成型及界面组织

作者: 金玉花 陈飞 吴永武 王希靖 郭廷彪

关键词: 搅拌摩擦搭接焊 异种金属 双道次焊 金属间化合物

摘要:对异种金属纯铜、纯铝板材进行了搅拌摩擦单道次焊与双道次焊试验,试验中采取搭接焊方式,使用扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS)、X射线衍射(XRD)对焊接接头成型及组织进行研究.结果 表明:单道焊能够形成良好的搭接接头,但易出现孔洞缺陷,双道次焊能消除单道次焊接产生的孔洞缺陷.单道次焊的界面金属间化合物由Al2Cu层和Al4Cu9层组成,双道次焊后的界面金属间化合物只有 Al2Cu层.单道次和双道次焊接后金属间化合物层总厚度小于1 μm,双道次焊后界面金属间化合物层更薄.


上一篇: Mg掺杂对ZnO纳米棒阵列的形貌及光学性能的影响
下一篇: 纯镍直缝焊管不同焊接方法的接头性能对比

Copyright 2007 Weihai China All Rights Reserved 兰州理工大学学报版权
鲁ICP备05001812号 
地址:甘肃省兰州市兰工坪路287号(730050)